Nově vyvinutý systém umožňující 12-bitové synchronní kontinuální vzorkování 4 kanálů frekvencí 2 MSample/s a nepřetržité ukládání navzorkovaných dat do paměti PC. Analogová část měřicích kanálů je odvozena od systému XEDO. Komunikace s PC a přenos dat je zajišťován rozhraním USB2.0. Data jsou na disk ukládána rychlostí kolem 16 MB/s, což představuje zhruba 56 GB na hodinové měření a celková doba měření je v podstatě omezena jen kapacitou diskového prostoru, který je schopen pracovat nepřetržitě alespoň v takové rychlosti ukládání.
Technické parametry |
||
Počet kanálů: | 4 pro akustickou emisi 1 pro záznam pomocné veličiny |
|
Zesílení vstupních zesilovačů pro AE: | nastavitelné programem v rozsahu 0 dB až +80 dB | |
Vstupní impedance - kanály pro AE: | 820 Ohmů | |
Rozsah vst. napětí pomocné veličiny: | -30 V až +30 V, desetibitový A/D převodník | |
Vstupní impedance - pomocný kanál: | 200 kOhmů | |
Kmitočet vzorkování - všechny kanály: | 2 Ms/s | |
Kmitočtový rozsah: | 50 kHz až 600 kHz (4 kanály pro AE) 0 až 2 kHz (pomocný kanál, lze upravit) |
|
Rozměry (v x š x h): | 120 x 175 x 270 mm | |
Napájení: | 100-240 V, 50-60 Hz, max. 25 W nebo 12VDC/1A z externího adaptéru |
On-line lze na monitoru současně sledovat obálku maximálních amplitud všech kanálů s nastavitelnou úrovní časové komprese. Pro pohodlné nastavení zesílení měřících kanálů je možné zobrazovat obálky vstupních napětí i bez ukládání naměřených dat na pevný disk. Po ukončení měření umožňuje zpracování naměřených dat program Dakel UI, který pracuje pod operačním systémem Linux. Tento program poskytuje tyto možnosti zpracování dat:
Kompletně zaznamenaný signál emisních událostí rovněž umožní využití moderních matematicko-statistických metod zaměřených na identifikaci emisních zdrojů.
Na rozdíl od dosud používaných metod ukládání parametrů signálu umožňuje uložený kompletně navzorkovaný signál následnou analýzu s jinak zadanými parametry stejně, jako by celé měření probíhalo s těmito parametry znova. Některá měření však není principiálně možné opakovat díky nevratné změně testovaného objektu.
Některé ovládací panely programu DAKEL-UI: vlevo sběr dat, vpravo spektrální analýza
Graf spektrálního složení signálu AE - trhací zkouška vzorku z čistého hliníku.
Černě zakreslen průběh zatěžovací síly, zcela vlevo zeleně je počet překmitů
signálu přes stanovenou mez (counts). Barevně je znázorněno spektrální rozložení
energie signálu v závislosti na čase.